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透射電鏡 測試介紹
透射電鏡測試（TEM）是一種利用電子束穿透樣品并由樣品下方的電子探測器接收透射電子的高分辨率顯微技術。它主要用于觀察樣品的微觀結構和性質，具有極高的分辨率，可以達到原子級別。
TEM能夠揭示材料的晶體結構，包括晶格參數、晶界、相界等，觀察到材料中的缺陷，如位錯、空位、堆垛層錯等，特別適合于研究納米尺度的材料結構，如納米顆粒、納米線、納米管等。通過能量色散X射線光譜技術，TEM可以進行元素的定性和定量分析，分析樣品中元素的化學狀態，如氧化態。TEM可以進行電子衍射分析，從而獲得材料的晶體學信息，提供樣品中元素的化學和結構信息，如電子能級結構。TEM還可以進行原位實驗，觀察材料在加熱、冷卻、應力作用等條件下的動態變化，捕捉到材料結構隨時間的變化過程。
中科檢測具備透射電鏡測試資質能力，可以出具CMA、CNAS檢測報告。
透射電鏡測試 服務內容
1、成分分析：透射電鏡可以通過觀察透射電子的吸收和散射情況，來確定樣品的成分。利用不同化學物質對電子的散射和吸收的差異，可以獲得樣品的能譜圖像，進而分析樣品中的元素種類和含量。
2、形貌觀察：透射電鏡還可以用來觀察化學物質的形貌。通過調節電子束的聚焦和透射模式，可以觀察到樣品的表面形貌以及微觀結構，如納米顆粒、薄膜厚度等。
3、結構研究：透射電鏡可以用來研究材料的晶體結構和外形。通過觀察透射的電子的衍射圖案，可以確定晶體的晶胞參數、晶面指數等信息。同時，透射電鏡還可以觀察到有關晶格缺陷、原子排列和晶界等結構信息。
透射電鏡 測試標準
GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術 透射電鏡選區電子衍射分析方法
GB/T 42208-2022 納米技術 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法
YS/T 1623-2023 鋁合金時效析出相的檢驗 透射電鏡法
